AD7656-1/AD7657-1/AD7658-1 分别是AD7656/AD7657/AD7658降低去耦要求的引脚和软件兼容版本，均内置6个16/14/12位、快速、低功耗逐次逼近型ADC，并集成到一个封装中，采用 iCMOS® 工艺（工业级CMOS）设计。 iCMOS是一种将高压硅与亚微米CMOS及互补双极性技术相结合的工艺。通过这种工艺，可开发在33V高压下工作的高性能模拟IC，其体积性能比是以往的高压器件所无法实现的。与采用传统CMOS工艺的模拟IC不同，i组件不但可以输入双极性信号，同时还能提升性能，大幅降低功耗并减小封装尺寸。

三款器件的吞吐速率高达250 kSPS，并且内置低噪声、宽带宽采样保持放大器，可处理最高4.5 MHz的输入频率。

转换过程与数据采集利用CONVST信号和内部振荡器进行控制。三个CONVST引脚（CONVST A、CONVST B和CONVST C）允许三对ADC独立地进行同步采样。AD7656-1/AD7657-1/AD7658-1具有一个高速并行接口和一个高速串行接口，为器件与微处理器或DSP的接口连接创造了条件。选择串行接口模式时，每个器件都允许多个ADC以菊花链形式连接至单个串行接口。三款器件均可在 ±4 × VREF和±2 × VREFsub>范围内支持真双极性输入信号。此外还内置一个2.5 V片内基准电压源。

产品聚焦

1. 片上集成6个16/14/12位250 kSPS ADC。
2. 6个真双极性、高阻抗模拟输入。
3. 高速并行和串行接口。
4. 与AD7656/AD7657/AD7658器件相比，降低了去耦要求和材料成本。

应用

EVAL-AD7657-1CBZ是针对AD7657-1的全功能评估套件。此评估板可单独使用，也可与评估控制器板配合使用。配合评估控制器板使用时，用户可利用提供的软件对ADC进行详尽的性能分析。此软件还包括技术笔记，说明评估板在单独使用以及配合评估控制器板使用时的操作与设置。

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