AD7656/AD7657/AD7658均内置六个16/14/12位、快速、低功耗逐次逼近型ADC，并集成到一个封装中，采用iCMOS™工艺（工业级CMOS）设计。iCMOS是一种将高压硅与亚微米CMOS及互补双极性技术相结合的工艺。 通过这种工艺，可开发在33V高压下工作的高性能模拟IC，其体积性能比是以往的高压器件所无法实现的。 与采用传统CMOS工艺的模拟IC不同，iCMOS元件不但可以输入双极性信号，同时还能提升性能，大幅降低功耗并减小封装尺寸。

三款器件的吞吐速率高达250 kSPS， 并且内置低噪声、宽带宽采样保持放大器，可处理最高12 MHz的输入频率。

转换过程与数据采集利用CONVST信号和内部振荡器进行控制。 三个CONVST引脚允许三对ADC独立地进行同步采样。 AD7656/AD7657/AD7658均具有一个高速并行接口和一个高速串行接口，为器件与微处理器或DSP的接口连接创造了条件。 在串行接口模式下，这些器件都允许多个ADC以菊花链形式连接至单个串行接口。 三款器件均可在±4 × VREF和±2 × VREF范围内支持真双极性输入信号。 此外还内置一个2.5 V片内基准电压源。

请访问新一代产品：AD7606。 建议新设计采用具有更高PSS鲁棒性的AD7656A引脚兼容器件。 有关降低的去耦要求，请访问AD7656-1或AD7656A-1产品页面。

产品特色

1. 片上集成6个16/14/12-bit 250 kSPS ADC。
2. 6个真双极性、高阻抗模拟输入。
3. 并行和高速串行接口。

应用

EVAL-AD7656CBZ是针对AD7656的全功能评估套件。此评估板可单独使用，也可与评估控制器板配合使用。配合评估控制器板使用时，用户可利用提供的软件对ADC进行详尽的性能分析。此软件还包括技术笔记，说明评估板在单独使用以及配合评估控制器板使用时的操作与设置。

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